一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种多孔碳材料及其制备和应用
专利号 CN201410707181.1 申请日 2014/11/28
公开(公告)号 CN105692580B 授权公告日 2018/8/21
主分类号 C01B32/184 分类号 C01B32/184; C01B32/05
申请号 CN201410707181.1 专利类型 发明
发明(设计)人 孙公权; 金具涛; 姜鲁华
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本发明涉及一种多孔碳及其制备方法。具体来讲,这种碳材料在宏观上具有棱形块状形貌,单个块体尺寸在5‑20m之间(棱形的边长尺寸)。这些单个的块体材料具有多级孔结构,包括50‑300nm之间的大孔,2‑10nm之间的介孔结构和小于2nm的微孔;大孔结构由三维连通的石墨烯壁构成,介孔和微孔则由石墨烯壁上的孔洞构成。这种碳材料的晶格中掺杂了氮和磷,其中氮的掺杂浓度在0.5%‑15.5%之间,磷的掺杂浓度在0.5%‑8.5%之间。这种材料是在原位聚合的软模板和金属的催化双重作用下形成的。这种材料在催化、储能、吸附等领域具有潜在的应用价值。

 
网站访问统计
 

   Copyright ©  中国科学院大连化学物理研究所 国家洁净能源知识产权运营中心 版权所有 All Rights Reserved.

地址:辽宁省大连市沙河口区中山路457号  邮政编码:116023  电话:+86-411-84379598  邮件:NetCenter@dicp.ac.cn