一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种采用横向梯度波荡器的偏转腔结构
专利号 CN201510604188.5 申请日 2015/9/21
公开(公告)号 CN106550529B 授权公告日 2019/4/9
主分类号 H05H7/12 分类号 H05H7/12
申请号 CN201510604188.5 专利类型 发明
发明(设计)人 王光磊; 邓海啸; 张未卿; 吴国荣; 张猛; 张伟; 杨学明
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本发明提供一种采用横向梯度波荡器的偏转腔结构,在传统偏转腔结构前端加置一台横向梯度波荡器,通过横向梯度波荡器引入的电子束相空间耦合作用,对三维电子束引入X‑Z或者Y‑Z方向上的耦合(取决于波荡器的摆放方向),使电子束每个切片上均受到不同的踢力,从而消除了电子束横向尺寸对偏转腔精度的影响,提高偏转腔结构的精度,通过合理优化整台装置的参数,可以将分辨精度提升至亚非秒量级。本发明可以在不影响自由电子激光系统辐射出光的前提下,将偏转腔结构的精度提高一个量级,装置结构简单,对功率源和漂移空间长度等因素要求低。

 
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