一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
检测多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷的方法
专利号 CN201410741003.0 申请日 2014/12/8
公开(公告)号 CN105651666B 授权公告日 2018/8/21
主分类号 G01N15/08 分类号 G01N15/08
申请号 CN201410741003.0 专利类型 发明
发明(设计)人 李慧; 徐恒泳; 郑磊
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本发明涉及一种“改进”的液体排除法检测多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷。与传统液体排除法相比,二者都是利用液体界面张力与孔径之间的关系来测量孔径,传统液体排除法借助于孔喉(孔道最窄处)处开孔压力与孔径之间的对应关系,而本方法则借助的是孔口处开孔压力与孔径之间的对应关系。采用本发明方法来测量多孔膜表面孔口直径分布或致密膜表面缺陷,可应用于科研以及生产过程中的产品检测,该方法既简单有效、准确率高,且装置易于搭建,操作简单。

 
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