一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种聚醚酰亚胺与气相二氧化硅混合基质膜、制备及应用
专利号 CN201210547993.5 申请日 2012/12/17
公开(公告)号 CN103084078B 授权公告日 2016/6/1
主分类号 B01D71/64 分类号 B01D71/64; B01D67/00; B01D69/12; B01D53/22
申请号 CN201210547993.5 专利类型 发明
发明(设计)人 任吉中; 张立秋; 李晖; 赵丹; 冯世超
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:一种聚醚酰亚胺与气相二氧化硅混合基质膜、制备及应用,本发明选用含有极性醚氧基团的新型HQDEA-DMMDA聚醚酰亚胺为基质膜材料,选择气相二氧化硅粒子为填料,通过超声方法将二氧化硅均匀分散在基质膜溶液中制备气体分离膜,该混合基质膜具有较好的气体渗透性,并对H2/CH4, H2/N2, CO2/CH4, CO2/H2以及O2/N2等分离体系保持较高的分离性能。

 
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