一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种二氧化硅负载贵金属纳米颗粒的制备方法
专利号 CN201410062662.1 申请日 2014/2/21
公开(公告)号 CN104858413B 授权公告日 2017/6/23
主分类号 B22F1/00 分类号 B22F1/00; B22F9/24; B01J23/50; B01J23/52; B01J23/42; B01J23/44; B01J23/46; C07C211/46; C07C209/36; B82Y40/00; B82Y30/00
申请号 CN201410062662.1 专利类型 发明
发明(设计)人 马继平; 徐杰; 贾秀全; 王敏; 高进; 苗虹
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:一种二氧化硅负载金属纳米颗粒的制备方法,该方法采用反相微乳液方法,二氧化硅的制备与金属纳米颗粒的负载一步实现。载体为二氧化硅纳米颗粒,粒径在20~200nm,金属为Cu、Ag、Au、Ni、Pt、Pd、Rh、Ir、Ru,金属纳米颗粒,粒径为1~20nm,金属分散在二氧化硅纳米颗粒上。

 
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