一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种温湿度可控的电导率测试装置及其操作方法
专利号 CN201310418567.6 申请日 2013/9/13
公开(公告)号 CN104459323B 授权公告日 2017/5/10
主分类号 G01R27/02 分类号 G01R27/02; G01R31/36
申请号 CN201310418567.6 专利类型 发明
发明(设计)人 孙公权; 杨丛荣; 王素力
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:一种温湿度可控的电导率测试装置,包括电导率测试室和电化学工作站;所述电导率测试室为一密闭容器;所述电导率测试室内部固定有电极夹具;所述电极夹具用于固定三电极和待测电解质膜;电极夹具为二个平行叠放设置的平板,待测电解质膜置于二个平板之间,于二个平板之间形成三个平行、相互间隔的电极的容置孔,三个电极分别放置于容置孔内;所述三电极分别通过导线与电化学工作站相连,测定待测电解质膜的阻抗,进而可获得待测电解质膜的电导率;于电导率测试室上部设有用于测量电导率测试室内部湿度的湿度传感器,湿度传感器通过导线与湿度显示器相连。与传统电导率测试装置相比,本发明具有可以实现不同湿度、不同温度环境下的电解质膜的电导率的测定,具有测定精度高,重复性好等优点。

 
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