一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种通用的大规模代谢组学数据的校正方法
专利号 CN201510778032.9 申请日 2015/11/13
公开(公告)号 CN106706820B 授权公告日 2018/5/25
主分类号 G01N30/86 分类号 G01N30/86
申请号 CN201510778032.9 专利类型 发明
发明(设计)人 许国旺; 赵燕妮; 郝志强; 路鑫; 林晓惠; 赵春霞; 赵洁妤; 张俊杰; 李艳丽; 李丽丽
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本发明公开了一种通用的大规模代谢组学数据的校正方法,首先采用色谱‑质谱联用仪对样品进行分析得到代谢组轮廓,通过计算相邻两个质量控制样品(QC)中代谢物响应强度的比值,将比值从小到大排序后,筛选总比值个数的5%作为离散点,将这5%的离散点平均分配到排序后比值的两端,从而建立模型去筛选代谢组数据中的随机误差,利用比值的线性拟合模型对随机误差进行校正。然后利用线性回归模型构建虚拟QC方法,实现大规模代谢数据集的系统误差校正。本发明可以高效、准确地校正大规模代谢组数据的随机误差和系统误差,实现多批次、不同仪器代谢组数据的整合,改善大规模代谢组数据的质量。

 
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