一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种变功率脉冲真空紫外光强度测量仪
专利号 CN201720045882.2 申请日 2017/1/16
公开(公告)号 CN206410784U 授权公告日 2017/8/15
主分类号 G01J1/42 分类号 G01J1/42
申请号 CN201720045882.2 专利类型 实用新型
发明(设计)人 李钦明; 杨家岳; 丁洪利; 陶凯; 张未卿; 杨学明
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本实用新型公开了一种变功率脉冲真空紫外光强度测量仪,包括真空腔体(1)、金属光强衰减装置(2)、光电二极管基座(3)、光电二极管(4)、真空引线装置(5)、直流稳压电源(6)、测量电路单元(7)和示波器(8),金属光强衰减装置置于光电二极管之前,光电二极管安装在光电二极管基座上,金属光强衰减装置、光电二极管基座和光电二极管置于真空腔体中;用真空引线装置把光电二极管两个引脚信号引出真空腔体外;两个引脚信号接入测量电路单元信号输入端,直流稳压电源输出接入测量电路单元直流输入端,测量电路单元的信号输出端接一示波器。本实用新型通过改变金属光强衰减装置档位和偏压大小,绝对测量纳焦至毫焦级脉冲真空紫外光强度。

 
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