一种用于离子迁移谱进样器的进样薄片
一种利用痕量氢气法测量氟化氢激光器燃烧室温度的方法
专利号 CN201410709487.0 申请日 2014/11/28
公开(公告)号 CN105701329B 授权公告日 2018/4/6
主分类号 G06F19/00 分类号 G06F19/00; G01J5/10
申请号 CN201410709487.0 专利类型 发明
发明(设计)人 李留成; 多丽萍; 金玉奇; 唐书凯; 李国富; 王元虎; 于海军; 汪健; 曹靖; 康元福
申请(专利权)人 中国科学院大连化学物理研究所
摘要:本发明涉及一种利用痕量氢气法测量氟化氢激光器燃烧室温度的方法,它基于气体动力学技术和自发辐射荧光光谱技术,先用氟化氢荧光光谱测量光腔温度,再根据气动力学反推燃烧室的温度。本发明主要应用于氟化氢化学激光测试诊断技术领域,可以在燃烧室没有观察窗的情况下利用光学方法测量氟化氢激光器燃烧室温度。本发明利用痕量氢气注入技术,减少了氢气与氟原子化学反应放热对于燃烧室流出的主气流温度的影响。本发明具有简单方便、直观准确、非侵入性等特点。

 
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